Fizeau干涉儀是*簡(jiǎn)單，用途*廣泛的干涉儀之一，廣泛用于平面和球形表面的常規(guī)測(cè)量。它用于測(cè)量光學(xué)組件，例如平板，棱鏡，透鏡，或精密金屬零件，例如軸承，密封面或拋光陶瓷。可以使用靜態(tài)條紋分析軟件進(jìn)行測(cè)量。
Holmarc Fizeau干涉儀（型號(hào)：HO-ED-INT-14）基本上帶有高光學(xué)質(zhì)量（λ/ 20）參考平面。測(cè)試表面的反射會(huì)干擾參考平面的反射，從而產(chǎn)生條紋。條紋的形狀和質(zhì)量取決于測(cè)試平板的表面質(zhì)量。使用高分辨率CCD相機(jī)對(duì)條紋進(jìn)行數(shù)字化處理。通過(guò)分析條紋，我們可以獲得PV平坦度，RMS平坦度，3D表面圖等。儀器豎立安裝，可以輕松固定測(cè)試樣品。傾斜/傾斜測(cè)試基座可使測(cè)試樣品與參考表面對(duì)齊。高質(zhì)量的像差校正光學(xué)設(shè)計(jì)可增強(qiáng)性能。
特征 可以進(jìn)行高精度的平面度測(cè)量 使用靜態(tài)條紋分析軟件 儀器豎立放置，因此測(cè)試樣品可以輕松固定 使用高質(zhì)量的像差校正光學(xué)元件