Soleil-Babinet補(bǔ)償器是一種連續(xù)可變的零階延遲器（波片），可以在較寬的光譜范圍內(nèi)使用?？勺冄舆t是通過調(diào)整長雙折射楔相對(duì)于短固定雙折射楔的位置來實(shí)現(xiàn)的。兩個(gè)楔塊的楔角和快速軸方向都相同，因此，在Soleil-Babinet補(bǔ)償器的整個(gè)凈孔徑上，延遲是均勻的。
補(bǔ)償板連接到固定楔塊，其快軸與楔塊的快軸和光的傳播方向都正交。當(dāng)長雙折射楔的位置使得兩個(gè)堆疊的楔的總厚度等于補(bǔ)償板的厚度時(shí)，通過Soleil-Babinet補(bǔ)償器的光的凈延遲將為零。然后可以用精密千分尺調(diào)節(jié)長楔形的位置，以產(chǎn)生延遲透射光束。
精que確定Babinet補(bǔ)償器在汞綠線的波長處發(fā)生干擾。這大約是2.4毫米。偏振器彼此隔開90°，其偏振軸彼此旋轉(zhuǎn)90°，因此沒有光透射。此時(shí)，偏振器交叉。在兩個(gè)偏振片之間插入補(bǔ)償器。調(diào)整筆尖/傾斜角度，使補(bǔ)償器垂直于光束。旋轉(zhuǎn)Babinet補(bǔ)償器以查找滅絕。應(yīng)出現(xiàn)高對(duì)比度的條紋。使用千分尺，記錄條紋的兩個(gè)零位之間的讀數(shù)。
樣品雙折射的測量
使用巴比涅補(bǔ)償器，可以產(chǎn)生普通和超常光線。這些光線發(fā)生干涉，并觀察到干涉條紋。通過將樣本片材引入入射射線和巴比涅補(bǔ)償器之間，會(huì)產(chǎn)生條紋圖案的偏移。測量條紋偏移并計(jì)算尋常光線和非尋常光線的折射率差。