Z掃描技術(shù)是一種簡(jiǎn)單且流行的實(shí)驗(yàn)技術(shù),用于測(cè)量材料的強(qiáng)度相關(guān)非線性磁化率。
Holmarc的Z掃描系統(tǒng)(型號(hào):HO-ED-LOE-03)是z掃描技術(shù)的簡(jiǎn)單實(shí)現(xiàn),可用于表征光學(xué)材料。
與z-掃描相關(guān)的兩個(gè)可測(cè)量量是非線性吸收和非線性折射。這些參數(shù)與三階非線性磁化率的虛部和實(shí)部相關(guān),并提供有關(guān)材料特性的重要信息。
特征
圖Z-掃描透射率與Z的關(guān)系的理論曲線