Zeta100電位納米粒度分析儀Zeta電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測(cè)量顆粒在電場中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta>電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒,在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒
Zeta100電位納米粒分析儀Zeta電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測(cè)量顆粒在電場中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta>電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒,在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。
二、主要技術(shù)指標(biāo)與性能
- Zeta電位測(cè)試
測(cè)試范圍 |
-500mv ~ 500mv |
粒度范圍 |
1nm-9500nm(與樣品有關(guān)) |
樣品池容積 |
400μl |
測(cè)試原理 |
ELS(電泳光散射) |
散射角 |
15 度 |
*大濃度 |
40% w/v |
相關(guān)器 |
1000通道線性相關(guān)器 |
電導(dǎo)率范圍 |
200 mS/cm |
- 粒度分布測(cè)試
粒度測(cè)試范圍 |
1-9500nm(與樣品有關(guān)) |
測(cè)試原理 |
DLS( 動(dòng)態(tài)光散射) |
重復(fù)性誤差 |
≤1%(國標(biāo)樣D50 偏差) |
相關(guān)器 |
1000 個(gè)物理通道 |
準(zhǔn)確性誤差 |
≤1%(國標(biāo)樣D50 偏差) |
光源 |
固體激光器 |
樣品池容積 |
1ml / 4ml |
激光器波長 |
671nm |
樣品池溫控范圍 |
15℃—90℃ |
激光器功率 |
50mW |
溫控精度 |
±0.2℃ |
散射角 |
90 度 |
- 分子量測(cè)試
分子量范圍 |
1000Da—2x107Da |
準(zhǔn)確性誤差 |
≤ 10% |
測(cè)試原理 |
SLS(靜態(tài)光散射) |
重復(fù)性誤差 |
≤ 5% |
三、主要應(yīng)用領(lǐng)域
包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、**制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。
四、突出特點(diǎn)
- BT-Zeta100電位測(cè)量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測(cè)量顆粒在電場中的運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。
- 納米粒度分布測(cè)量采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動(dòng),較小顆粒的移動(dòng)速度快于較大顆粒,在某個(gè)角度檢測(cè)記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動(dòng)速度,利用這些信息可以計(jì)算顆粒的粒度分布。
- 分子量測(cè)量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測(cè)量不同濃度中測(cè)量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。
五、良好的重復(fù)性
- 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
- 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊
- 高精度樣品池定位組件
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!