霍爾馬克（Holmarc）推出了一種使用VIS-NIR波長的新型創(chuàng)xin型高靈敏度和高磁場光譜橢偏測量設(shè)備。HOLMARC A216測試站提供標(biāo)準(zhǔn)化的測試解決方案，以適合廣泛的旋光度測量應(yīng)用。模塊化硬件設(shè)計(jì)使用戶可以在磁場和無磁場的情況下自動(dòng)進(jìn)行液體，固體和薄膜樣品的測量。
設(shè)計(jì)用于磁光材料的研究和測試，包括鐵磁和亞鐵磁薄膜和材料的磁特性。測量包括超薄磁性膜和多層的磁滯回線，橢圓率測量，介電材料的薄膜厚度測量，折射率，Δ和psi測量等。系統(tǒng)可以在*性，縱向和橫向配置下運(yùn)行。
性能
旋光度測量分辨率：±0.009度
檢測靈敏度：0.009度（透明度大于20％）。
穩(wěn)定性：0.03度（透明度大于20％）。
橢圓度測量：±0.01度。
旋光度測量范圍：±90度。
測量波長范圍：350-900 nm
光譜帶寬：1 nm（可變帶通至10nm）
*高 磁場：17,500高斯
*小 場檢測：1高斯
磁場精度：±0.05％
或測量具有法拉第效應(yīng)的薄膜，晶體，液體等
透明固體和液體的測量維爾德常數(shù)
法拉第旋轉(zhuǎn)/橢圓角
*角Kerr旋轉(zhuǎn)/橢圓率角
所需波長下的磁場與法拉第旋轉(zhuǎn)角特性
法拉第旋轉(zhuǎn)角度與波長色散特性
法拉第旋轉(zhuǎn)角度與熱依賴性的關(guān)系（可選）
旋光度
膜厚
折光率
吸收系數(shù)
光電導(dǎo)率
相速度
組索引
布魯斯特角
空氣中的折射率
摩爾折射率
光子能量
規(guī)范動(dòng)量
動(dòng)量
組速度
PSI-Delta
Epsilon 1和2
還可以通過在本機(jī)上添加HV電源來研究透明物質(zhì)在外部電場下的光學(xué)活性。
定值模型
輸入價(jià)值模型
柯西系數(shù)模型
Sellmeier系數(shù)模型
Cauchy和Sellmier模型的組合
德魯系數(shù)
洛倫茲-德魯?shù)孪禂?shù)
布倫德爾-博曼系數(shù)
足立系數(shù)
柯西·洛倫茲系數(shù)
非晶色散系數(shù)
柯西吸收系數(shù)
Sellmeier Lorentz Drude模型系數(shù)
柯西·烏爾巴赫系數(shù)