簡(jiǎn)單介紹
MikroTest是過去40年來世界上使用*廣泛的涂層測(cè)厚儀。MikroTest符合所有模擬磁性涂層測(cè)厚儀的*高技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。該磁性涂層測(cè)厚儀根據(jù)磁性吸引原理工作,可測(cè)量鋼上的所有非磁性涂層和鋼上的電化鎳。 MikroTest提供11種不同型號(hào),以適合每種要求的應(yīng)用。平衡的測(cè)量系統(tǒng)可確保在任何角度(水平,垂直和上方)的準(zhǔn)確讀數(shù)。而且,該量規(guī)允許在曲面上進(jìn)行測(cè)量。由于具有自動(dòng)操作功能,它還可以為您提供在管子和圓形零件上的**測(cè)量。
產(chǎn)品描述
新零件編號(hào):80-638-0101
舊零件編號(hào):MIK / 010100
NSN:5220-12-327-2245
MikroTest是過去40年來世界上使用*廣泛的涂層測(cè)厚儀。MikroTest符合所有模擬磁性涂層測(cè)厚儀的*高技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。該磁性涂層測(cè)厚儀根據(jù)磁性吸引原理工作,可測(cè)量鋼上的所有非磁性涂層和鋼上的電化鎳。
MikroTest提供11種不同型號(hào),以適合每種要求的應(yīng)用。平衡的測(cè)量系統(tǒng)可確保在任何角度(水平,垂直和上方)的準(zhǔn)確讀數(shù)。而且,該量規(guī)允許在曲面上進(jìn)行測(cè)量。由于具有自動(dòng)操作功能,它還可以為您提供在管子和圓形零件上的**測(cè)量。
涂層厚度的測(cè)量基于磁性吸引力。吸引力與永磁體和鋼基底之間的距離有關(guān)。該距離代表待測(cè)涂層的厚度。磁鐵通過與磁鐵臂相連的彈簧從表面提起。抬起磁體所需的力與扭簧的旋轉(zhuǎn)角度直接相關(guān)。此測(cè)量原理也特別適用于銅,鋁和其他有色金屬上的電鍍鎳。這種測(cè)量原理可確保無需電源或校準(zhǔn)的全自動(dòng)測(cè)量。
MikroTest FM 5量規(guī),涂層厚度,0至40密耳新零件編號(hào):80-638-0101
舊零件編號(hào):MIK / 010100
NSN:5220-12-327-2245
特征
- Mils型號(hào)包括NIST可追溯的校準(zhǔn)證書,Micron型號(hào)包括工廠的“工廠”證書
- *高精度,*簡(jiǎn)單的操作
- 無需校準(zhǔn)
- 簡(jiǎn)單的設(shè)置和測(cè)量
- 所有儀表無需電源或電池即可運(yùn)行
- 一點(diǎn)測(cè)量
- 金屬外殼可防止機(jī)械沖擊
- 金屬外殼和測(cè)量系統(tǒng)耐溶劑
- 自動(dòng)模型控制磁鐵的釋放,以實(shí)現(xiàn)*高的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性
類型 | 范圍 | 典型應(yīng)用 | 公差 | *小表面 | *小半徑 | *小基礎(chǔ)厚度 |
---|---|---|---|---|---|---|
GM g ^ |
4密耳 100微米 |
鋼上電鍍和油漆 | ±1μm或讀數(shù)的5% | 直徑20毫米 | 凸5毫米/凹25毫米 | 0.5毫米 |
FM ?F |
40密耳 1000微米 |
鋼上漆 | ±5μm或讀數(shù)的5% | 直徑30毫米 | 凸面mm /凹面25 mm | 0.5毫米 |
S3M S3 |
8-120密耳 0.2-3毫米 |
搪瓷,鋼上漆 | 閱讀的5% | 直徑30毫米 | 凸15毫米/凹25毫米 | 1.0毫米 |
S5M S5 |
20-200密耳 0.5-5毫米 |
搪瓷,鋼上漆 | 閱讀的5% | ?50毫米 | 凸15毫米/凹25毫米 | 1.0毫米 |
S10M S10 |
0.1-0.4英寸 2.5-10毫米 |
搪瓷,鋼上漆 | 閱讀的5% | ?50毫米 | 凸15毫米/凹25毫米 | 2.0毫米 |
S20M S20 |
0.3-0.8英寸 7.5-20毫米 |
搪瓷,鋼上漆 | 閱讀的5% | ?100毫米 | 凸100毫米/凹150毫米 | 7.0毫米 |
Ni50M Ni50 |
2密耳 50微米 |
有色電鍍鎳 | ±(1μm+讀數(shù)的5%) | ?15毫米 | 凸5毫米/凹25毫米 | -- |
Ni100M Ni100 |
4密耳 100微米 |
有色電鍍鎳 | ±(1μm+讀數(shù)的5%) | ?15毫米 | 凸5毫米/凹25毫米 | -- |
NiFe50M NiFe50 |
2密耳 50微米 |
鋼上電鍍鎳 | ±(2μm+讀數(shù)的8%) | 直徑20毫米 | 凸10毫米/凹25毫米 | 0.5毫米 |
提供了一個(gè)可選的高溫套件(MK-HT),用于在*高212°F(100°C)的表面溫度下使用MikroTest模型。它也可以在*高572°F(300°C)的表面溫度下使用,但是MikroTest必須限制在少于5秒的表面接觸時(shí)間內(nèi),否則會(huì)造成損壞。MK-HT套件包括鋁腳和傳感器棱鏡。
完整套件
MikroTest隨附以下物品:
-MikroTest量規(guī)
-手提帶
-塑料手提箱
-操作說明
-MikroTest量規(guī)
-手提帶
-塑料手提箱
-操作說明

環(huán)境溫度 | -20°C-100°C |
符合標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 2178,DIN 50982,ASTM B 499,E 376,D 1186,G 12,B 530,BS 5411,ISO 2361 |
尺寸圖 | 規(guī)格:215毫米x 55毫米x 29毫米塑料手提箱:235毫米x 185毫米x 46毫米 |
重量 | 案例包括 約規(guī) 560克 |
校準(zhǔn)墊片 |
以下是兩個(gè)無法使用塑料墊片/箔片加零板檢查MikroTest校準(zhǔn)的技術(shù)原因: 1.所有塑料墊片/箔片都具有一定的預(yù)應(yīng)力,當(dāng)磁體提起時(shí),它們會(huì)略微彎曲,因此其作用類似于彈簧的作用,會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確 。2.塑料墊片/箔片帶有一定的靜電荷,這也會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。 |
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