Fizeau是*靈活的干涉儀，可以使用非接觸配置來測量平坦和球形表面。它的參考光路和測量光路是相同的，因此這是一個緊湊的抗振系統。Fizeau干涉儀在某種程度上類似于Fabry-Perot干涉儀，因為兩者都由兩個反射面組成。但是，在菲索（Fizeau）干涉儀中，**表面通常是全反射的。傾斜的分束器捕獲參考光束和測量光束。
Holmarc Fizeau干涉儀具有開放式和垂直式配置。適用于平面和球形表面的常規(guī)測量。DPSS激光用作光源。垂直方向的光學布局使測試組件的放置變得容易。條紋由CCD相機捕獲并由計算機分析。該設備可用于制造中光學器件的質量控制以及實驗室的常規(guī)檢查。
包含的組件
DPSS激光源532nm（5 mW），
空間過濾器組件
分束器
帶支架的準直透鏡
帶底座的參考平面
測試平板安裝
帶有CCD等的變焦鏡頭
圖。Fizeo干涉儀示意圖