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產(chǎn)品名稱：光柵分光光度計
產(chǎn)品型號：YR053420
產(chǎn)品展商：Kalstein
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簡單介紹

光柵分光光度計產(chǎn)品描述 YR05349//YR053421光譜儀配備φ8mm、φ4mm、1x3mm三個測量孔徑，適應(yīng)性更強，顏色測量準確，性能穩(wěn)定，在塑料電子、油漆涂料、紡織印染、印刷紙制品、汽車、醫(yī)療、化妝品和食品行業(yè)，在科研機構(gòu)、實驗室領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。 YR05349//YR053421系列光柵分光光度計是卡爾斯坦公司歷時3年，精心設(shè)計，完全具有自主知識產(chǎn)權(quán)的光柵分光計。該儀器采用1000行精密閃耀光柵作為分光器，內(nèi)置硅光電二管陣列（雙排40組）傳感器，進口白板，重復(fù)性δEAB易于控制在0.03以內(nèi)，使用壽命長的全光譜LED作為光源，可見光范圍內(nèi)的光學(xué)分辨率小于10nm。在CIE推薦的d/8幾何光學(xué)照明條件下，YR05349//YR053421光柵分光光度計可以準確測量樣品/熒光樣品的SCI和SCE反射率數(shù)據(jù)，也可以準確測量和表達各種顏色空間中的

產(chǎn)品描述

產(chǎn)品描述

年053419//年053421光譜儀配備φ8mm、φ4mm、1x3mm三種測量孔徑，適應(yīng)性更強，顏色測量準確，性能穩(wěn)定，在塑膠電子、油漆涂料、紡織印染、印刷紙制品、汽車、醫(yī)療、化妝品和食品行業(yè)，在科研機構(gòu)，實驗室等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。

年053419//年053421系列光柵分光光度計是卡爾斯坦公司耗時3.年，精心設(shè)計，完全具有自主知識產(chǎn)權(quán)的光柵分光光度計。儀器采用1000線精密發(fā)光光柵作為分光器，內(nèi)置硅光電二*管陣列（雙排40組）傳感器，進口白板，重復(fù)精度δE*AB輕松控制在0.03以內(nèi)，采用長壽命全光譜發(fā)光二*管作為光源，在可見光范圍內(nèi)的光學(xué)分辨率小于10nm

年053419//年053421光柵分光光度計在CIE公司推薦的第8天幾何光學(xué)照明條件下，可以準確測量樣品/熒光樣品的美國科學(xué)院和第三節(jié)反射率數(shù)據(jù)，也可以準確測量和表達各種色差公式和顏色指數(shù)各種色彩空間。配合分光測色儀YR053419//YR053421可輕松實現(xiàn)色彩的準確傳遞，也可作為準確配色系統(tǒng)的檢測設(shè)備。

技術(shù)優(yōu)勢

硅光電二*管陣列（雙40陣列）傳感器雙40陣列傳感器

面積更大，強光不飽和，弱光靈敏度高，光譜響應(yīng)范圍更廣，確保儀器測量速度、精度、穩(wěn)定性和一致性，掌握核心技術(shù)，與國際標準同平臺，完全兼容。

采用全波段平衡發(fā)光二*管光源

全波段平衡發(fā)光二*管光源保證了可見光范圍內(nèi)充分的光譜分布，避免了白光發(fā)光二*管在特定波段的光譜損失，保證了測量速度和測量結(jié)果的準確性。

光柵分光技術(shù)

采用光柵分光技術(shù)，分辨率更高，使測色更準確。

**放置底座，確保白板不臟。

專業(yè)白板，一生不變色承諾

快充

特有的快充模式，低電壓提醒充電或使用下班時間充電，保證電池的容量和壽命（注意：頻繁重復(fù)充電危害更大）。

基于人體工程學(xué)

的**時尚外觀設(shè)計精心設(shè)計的手握位置和測量按鈕可滿足不同的握持習(xí)慣，表面光滑細膩，源于高精度的外觀加工藝術(shù)。

配備三個測量孔，以滿足大多數(shù)樣品的測量

分光光度計YR05349//YR053421的工廠配置具有?8mm平面孔徑、?8mm**孔徑、?4mm平面孔徑、洛伊4mm**孔徑、洛伊1x3mm孔徑，共有五個測量孔徑，以滿足大多數(shù)樣品的測量。

攝像頭定位可清晰觀察測量區(qū)域

分光光度計YR05349//YR053421內(nèi)置攝像頭定位，通過攝像頭實時查看，可以準確判斷物體被測部位是否為目標中心，提高測量效率和精度。

儀器之間的優(yōu)良誤差和重復(fù)性

確保多臺設(shè)備測量數(shù)據(jù)的一致性，用于顏色匹配和準確的顏色轉(zhuǎn)換。

各種顏色空間和觀察光源

提供CIE LAB、XYZ、Yxy、LCh、CIE LUV、S-RGB、HunterLab、βXY、DIN Lab99 Munsell（C/2）顏色空間和D65、A、C、D50、D55、D75、F1、F2（CWF）、F3、F4和F5、F6和F7（DLF）、F8、F9、F10（TPL5）和F11（TL84）、F12（TL83/U30）各種光源，以滿足不同測量條件下的特殊測量要求。

采用國際通用的d/8 SCI/SCE合成技術(shù)

根據(jù)CIE No.15、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO7724-1、ASTM E1164、DIN5033 Teil7，采用D/8（SCI/SCE）測量結(jié)構(gòu)，以更客觀地反映顏色本身，并減少物體表面紋理對測試結(jié)果的影響。

雙光程系統(tǒng)，用于更**的顏色測量

雙光程系統(tǒng)，可見光范圍內(nèi)光學(xué)分辨率小于10nm，可同時測量樣品SCI、SCE光譜。

PC軟件具有強大的功能擴展

SQCX質(zhì)量管理軟件采用YR053421分光光度計，適用于各種行業(yè)的質(zhì)量監(jiān)控和顏色數(shù)據(jù)管理。數(shù)字化用戶數(shù)據(jù)顏色管理。

技術(shù)規(guī)范

模型

年053420

光學(xué)幾何

反射：di:8°，de:8°（漫射照明，8度視角）

SCI（包括鏡面成分）/SCE（不包括鏡面成分；

包括UV/排除UV光源

符合CIE 15號、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO7724-1、ASTM E1164、DIN5033 Teil7

特征

實驗室中用于**顏色分析和透射的雙孔徑

它用于塑料電子中的**顏色測量和質(zhì)量控制，

涂料和油墨、紡織和服裝印染、印刷、陶瓷和其他行業(yè)，以及熒光樣品測量。

積分球體大小

Φ40mm

光源

組合式全光譜LED光源、UV光源

分光光度模式

平面光柵

Senso公司

硅光電二*管陣列（雙排40組）

波長范圍

400~700nm

波長間隔

10納米

半頻帶寬度

10納米

測量反射范圍

0-200%

測量孔徑

MAV：Φ8mm/Φ10mmSAV:Φ4mm/Φ5mm

鏡面反射分量

SCI-SCE（&S）

色空間

CIE實驗室，XYZ，Yxy，LCh，CIE LUV，s-RGB，HunterLab，βxy，DIN Lab99 Munsell

（C/2）

色差公式

ΔE*ab、ΔE*uv、ΔE*94、ΔE*1cmc（2:1）、ΔEcmc（1:1）、ΔE*00、DINΔE99、ΔE

（亨特）

其他色度指數(shù)

WI（ASTM E313、CIE/ISO、AATCC、Hunter），

YI（ASTM D1925、ASTM 313），

變質(zhì)指數(shù)MI，

染色牢度，色牢度，色強度，不透明度，

8°光澤度，555色調(diào)分類

觀察者角度

2°/10°

光源

D65、A、C、D50、D55、D75、F1、F2（CWF）、F3、F4、F5、F6、F7（DLF）、F8、F9、，

F10（TPL5）、F11（TL84）、F12（TL83/U30）

顯示的數(shù)據(jù)

光譜圖/值、樣品色度值、顏色

差值/圖形、通過/未通過結(jié)果、顏色偏移

測量時間

約1.5秒（測量SCI和SCE約3.2秒）

重復(fù)性

光譜反射率：MAV/SCI，標準偏差在0.08%以內(nèi)

（400 nm至700 nm：0.18%以內(nèi)）

色度值：MAV/SCI，在ΔE*ab 0.02范圍內(nèi)（當

白色校準板在5秒內(nèi)測量30次

白色校準后的間隔）

儀器間錯誤

MAV/SCI，ΔE*ab 0.15內(nèi)

（12塊BCRA II系列彩色瓷磚的平均值）

測量模式

單次測量，平均測量（2-99次）

定位方法

攝像機定位，穩(wěn)定器交叉位置

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